一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法

摘要

本发明公开了一种抗弯曲多模光纤数值孔径的测试方法，属于光纤光缆测试技术领域。该方法通过对较短光纤打圈滤掉高阶模以及对数据进行数学运算方式代替100m段长光纤NA测试，建立不同剖面结构、不同长度光纤、不同打圈半径和圈数下的较短光纤与100m光纤的数值孔径值的数学联系，从而在需要测试被测光纤的数值孔径时，只需在相应打圈半径和圈数下测得其较短长度光纤的数值孔径值，并查找到对应的运算系数(即D₁和D₂)，利用上述数学运算公式即可计算得到对应的100m段长光纤的数值孔径值，对于各种剖面结构及不同工艺方法制造的光纤的测试均可方便实现，测试结果可行，并且能够大大提高生产测试效率，节约光纤。