法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-05-15
授权
授权
2016-10-19
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/04 申请日:20160419
实质审查的生效
2016-09-21
公开
公开
机译: 纳米材料中电子迁移率的电测量装置,纳米材料中空穴的电率测量装置,纳米材料中电子迁移率的电沉积率测量以及纳米材料中的电沉积率测量方法
机译: 纳米材料中电子迁移率的电测量装置,纳米材料中空穴的电率测量装置,纳米材料中电子迁移率的电沉积率测量以及纳米材料中的电沉积率测量方法
机译: 折射率分布测量方法,装置及其光学元件的制造方法,使用浸没在至少一种折射率与测试对象的折射率不同的介质中的测试对象的多个透射波前和参考的多个参考透射波前具有已知形状和折射率分布的物体