公开/公告号CN105841720B
专利类型发明专利
公开/公告日2018-05-08
原文格式PDF
申请/专利权人 大连爱特隆光学科技有限公司;
申请/专利号CN201610336290.6
申请日2016-05-20
分类号
代理机构大连非凡专利事务所;
代理人高学刚
地址 116000 辽宁省大连市高新园区凌工路2号大连理工大学物理与光电工程学院
入库时间 2022-08-23 10:11:13
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-05-08
授权
授权
2016-09-07
实质审查的生效 IPC(主分类):G01D5/26 申请日:20160520
实质审查的生效
2016-08-10
公开
公开
机译: 双光束干涉仪用于光谱学-包含两个具有平行有效表面的分束器和带有独立光学输入和输出通道的后向反射器
机译: 干涉仪以线性方式指示两个平面平行的反射面的距离变化
机译: 电子元件表面形状记录程序使用白光干涉仪,并使用非相干解调进行像素处理