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使用两个平行反射面的光纤白光干涉解调仪

摘要

本发明公开一种使用两个平行反射面的光纤白光干涉解调仪,其特征在于:所述的解调仪包括宽谱光源,所述的宽谱光源所发出的光进入光耦合器的一个入射端,光耦合器的出射端与被测光学干涉传感器相连,光耦合器的另一个入射端与入射光纤相连,入射光纤出射端发出的有一定发散角的空间光束照射到透明平行光学反射面对上,且入射光纤的出射端的轴线与透明平行光学反射面对之间的夹角为20‑70°,在透明平行光学反射面对的反射方向上设置有阵列光探测器,所述透明平行光学反射面对的两个表面的反射率在3%到20%之间,所述被测干涉传感器的初始光程差为L,所述透明平行光学反射面对的光学厚度为L±0.5L。

著录项

  • 公开/公告号CN105841720B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连爱特隆光学科技有限公司;

    申请/专利号CN201610336290.6

  • 发明设计人 于志浩;田志鹏;

    申请日2016-05-20

  • 分类号

  • 代理机构大连非凡专利事务所;

  • 代理人高学刚

  • 地址 116000 辽宁省大连市高新园区凌工路2号大连理工大学物理与光电工程学院

  • 入库时间 2022-08-23 10:11:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-08

    授权

    授权

  • 2016-09-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D5/26 申请日:20160520

    实质审查的生效

  • 2016-08-10

    公开

    公开

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