一种CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法

摘要

本发明公开了一种CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法，属于光学成像及数字图像处理分析技术领域中的响应非均匀性和线性性的检测装置、检测方法。其检测装置包括测试光源、衰减片、取样镜、光契对、长焦汇聚透镜、待测CCD、二维平移台、能量计、计算机、控制器和暗箱，测试光源产生的入射激光依次经衰减片、取样镜后产生反射激光和透射激光，反射激光直接入射至能量计，透射激光依次经光契对、长焦汇聚透镜后入射至待测CCD，待测CCD安装于二维平移台上，二维平移台与控制器电连接，待测CCD、能量计和控制器均与计算机电连接。本发明适用于CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法。