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一种基于拓扑半金属的FET和HEMT及其制备方法

摘要

本发明公开了一种基于拓扑半金属的FET和HEMT及其制备方法。本发明的场效应晶体管包括:衬底;形成在衬底上的沟道层;分别形成在沟道层上两侧的源极和漏极;形成在沟道层上源极和漏极之间的栅极;沟道层采用n型掺杂或p型掺杂的砷化镉Cd3As2材料。本发明的沟道层采用拓扑半金属Cd3As2,是一种新型的拓扑材料,其体态具有两个狄拉克锥,狄拉克点受晶体对称性保护而不会产生能隙;Cd3As2具有超高的电子迁移率,对于高质量的Cd3As2样品,室温下的电子迁移率可达1.5×104cm2/V·s,5K时可达107cm2/V·s,远远超过现有晶体管;由于Cd3As2特殊的能带结构,有望在低温下实现无耗散的弹道输运。

著录项

  • 公开/公告号CN105006485B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN201510337336.1

  • 发明设计人 王健;刘易;赵弇斐;

    申请日2015-06-17

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L29/24(20060101);H01L29/66(20060101);H01L29/778(20060101);

  • 代理机构11360 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王岩

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-27

    授权

    授权

  • 2015-11-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20150617

    实质审查的生效

  • 2015-10-28

    公开

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