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液晶盒厚度检测方法、液晶盒厚度控制系统及液晶装置制造方法

摘要

提供一种新的液晶盒厚度测定方法,可以精确地检测液晶面板的液晶盒厚度,而不因滤色器的存在而受影响。利用分光单元(141)对透过夹持液晶显示面板(10)的加压夹具的光进行分光,根据该分光光谱中的极小值或极大值的波长或频率求出液晶盒厚度。将检测出的液晶盒厚度与目标值进行比较,与该比较结果对应,利用压力控制单元(132)向加压夹具供给流体。

著录项

  • 公开/公告号CN1285880C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-11-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 精工爱普生株式会社;

    申请/专利号CN01132511.9

  • 发明设计人 黑岩雅宏;

    申请日2001-08-31

  • 分类号G01B11/06(20060101);G02F1/13(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人王岳;张志醒

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-30

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/06 授权公告日:20061122 终止日期:20120831 申请日:20010831

    专利权的终止

  • 2006-11-22

    授权

    授权

  • 2002-03-20

    公开

    公开

  • 2001-12-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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