首页> 中国专利> 基于二值化阈值自动搜索的磁光成像缺陷检测方法

基于二值化阈值自动搜索的磁光成像缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种基于二值化阈值自动搜索的磁光成像缺陷检测方法,先对获取磁光灰度图进行均值滤波,然后自动搜索二值化阈值,在搜索过程中使用了“灌水”式的像素填充扫描方法,对不同填充高度下的填充面积进行计算,拟合得到填充面积相对于填充高度的变化曲线,搜索得到曲线中填充面积增长率最大处所对应的填充高度作为最佳的二值化阀值,然后对磁光图像进行二值化处理,再利用对二值化图进行轮廓检测得到斑点,计算每个斑点的面积,通过滤除小斑点的方法排除干扰光斑对缺陷的干扰,从而检测得到缺陷。本发明通过自动搜索最佳二值化阈值,然后利用面积滤除干扰,从而快速准确地提取得到清晰的缺陷信息。

著录项

  • 公开/公告号CN105427324B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201510888490.8

  • 申请日2015-12-07

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/13(20170101);G06T5/00(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平;陈靓靓

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-09

    授权

    授权

  • 2017-11-14

    著录事项变更 IPC(主分类):G06T7/00 变更前: 变更后: 申请日:20151207

    著录事项变更

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20151207

    实质审查的生效

  • 2016-03-23

    公开

    公开

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