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硅上液晶集成电路及其像素连续性测试方法和系统

摘要

示例实施例包括硅上液晶集成电路中的像素的连续性测试方法。该方法包括将第一电压写入至像素。对像素进行隔离,并且对选择性地耦接至像素的线进行放电。该方法还包括对感测放大器进行使能,该感测放大器被配置成感测线上的电压。像素电连接至线,并且感测线上的生成电压。

著录项

  • 公开/公告号CN105051805B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 菲尼萨公司;

    申请/专利号CN201480017761.6

  • 申请日2014-01-24

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人朱胜

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 10:08:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-02

    授权

    授权

  • 2015-12-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G09G3/00 申请日:20140124

    实质审查的生效

  • 2015-11-11

    公开

    公开

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