一种金属电极和硅基底之间接触电阻的测试方法

摘要

本发明公开了一种金属电极和硅基底之间接触电阻的测试方法，包括如下步骤：(1) 将电池片放在测试底板和固定探针之间；(2) 将固定探针压在电池片的两条主栅上，然后使移动探针划过细栅进行测试，得到第一测试图片；(3) 将电池片水平旋转180度，将电池片固定在测试底板上；(4) 将固定探针压在电池片的两条主栅上，然后使移动探针划过细栅进行测试，得到第二测试图片；(5) 将上述第一测试图片和第二测试图片组合起来，即可得到完整的测试图片。本发明解决了现有技术中测试图片的上端具有大量的留白的问题。