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集成电路中的集成测试电路

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摘要

本案系有关于一种在集成电路中之集成测试装置，用以测试复数内电压，一切换装置被提供，用以选择根据为了测试目的之选择信号来选择其中一内电压；一比较器装置被提供，其系依据该选择的内电压，以比较一量测电压与一外部指定的参考电压，以及由于该比较而输出一错误信号。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-04-05

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 授权公告日:20061108 终止日期:20160218 申请日:20040218

专利权的终止
2016-02-03

专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20160112 变更前: 变更后: 申请日:20040218

专利申请权、专利权的转移
2012-12-26

专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更前: 变更后: 申请日:20040218

专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2012-12-26

专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 变更前: 变更后: 登记生效日:20121128 申请日:20040218

专利申请权、专利权的转移
2006-11-08

授权

授权
2004-10-27

实质审查的生效

实质审查的生效
2004-08-25

公开

公开

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