基于二阶关联技术的弱测量新方法

摘要

本发明提供了一种基于二阶关联技术的弱测量新方法，包括：光学模块、电学模块和数据处理模块；其中，所述光学模块用于生成两路光信号；所述电学模块用于将光信号转换成电信号，以获得测量数据并存储；所述数据处理模块用于对所测量数据进行分析和处理，获得合适的弱测量的偏移量和弱放大值。本发明采用二阶关联技术，可以通过弱测量技术对晶体厚度这一参量进行弱放大，并且比传统弱测量放大的效果更好，放大倍数更高。因此，可以有效解决检测器分辨率和技术噪声的问题。