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点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法

摘要

一种点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法之二,该测量仪由光源、分光器、第一光强与偏振态调节器、相移器、第二光强与偏振态调节器、理想波前与点光源发生单元、物方精密调节台、被测光学系统、像方波前检测单元、像方精密调节台和数据处理单元组成。本发明测量仪在被测光学系统物面仅需要产生一路标准球面波输出,降低了系统复杂性,提高了光能利用率;该测量仪也降低了系统精密度要求及操作复杂性。

著录项

  • 公开/公告号CN105466668B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201510982725.X

  • 申请日2015-12-24

  • 分类号

  • 代理机构上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:05:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-12

    授权

    授权

  • 2016-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20151224

    实质审查的生效

  • 2016-04-06

    公开

    公开

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