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层叠型半导体元件的制造方法、层叠型半导体元件及其制造装置

摘要

提供层叠型半导体元件的制造方法、层叠型半导体元件及其制造装置。具备下述步骤:层叠膜形成步骤,其具有下述工序:氧化硅膜形成工序,使用三乙氧基硅烷、八甲基环四硅氧烷、六甲基二硅氮烷和二乙基硅烷中的任一种在半导体基板上形成氧化硅膜;和氮化硅膜形成工序,在通过氧化硅膜形成工序形成的氧化硅膜上形成氮化硅膜,重复多次氧化硅膜形成工序和氮化硅膜形成工序,在半导体基板上形成交替配置多个氧化硅膜与多个氮化硅膜的层叠膜;氮化硅膜蚀刻步骤,将构成层叠膜的氮化硅膜进行蚀刻;降低碳浓度的步骤,将氮化硅膜蚀刻步骤中没有被蚀刻的氧化硅膜中的碳去除而降低碳浓度;以及电极形成步骤,在氮化硅膜蚀刻步骤中被蚀刻的区域形成电极。

著录项

  • 公开/公告号CN104064446B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN201410109233.5

  • 发明设计人 长谷部一秀;大部智行;黑川昌毅;

    申请日2014-03-21

  • 分类号H01L21/02(20060101);H01L21/28(20060101);

  • 代理机构11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇;李茂家

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:03:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-28

    授权

    授权

  • 2015-10-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20140321

    实质审查的生效

  • 2015-10-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20140321

    实质审查的生效

  • 2014-09-24

    公开

    公开

  • 2014-09-24

    公开

    公开

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