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带电粒子束装置用试样架和带电粒子束装置

摘要

在能量色散型X射线EDX分析中,由于检测器的大面积化等,产生检测的信号的峰/背比降低的问题。为了解决上述问题,在本发明中,提供一种试样架以及应用了该试样架的带电粒子束装置,试样架的特征在于,具备:主体部,其保持试样(301);试样压板部(103),其可自由装卸地设置在上述主体部,通过安装到该主体部来固定在该主体部保持的试样(301),上述试样压板部(103)具有:第一孔(107),其用于使带电粒子束(106)经过;第二孔(108),其向检测器(102)只导入从上述试样(301)产生的信号(302)中的特定的信号(303)。

著录项

  • 公开/公告号CN106030753B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立高新技术;

    申请/专利号CN201480076317.1

  • 发明设计人 铃木裕也;长冲功;松本弘昭;

    申请日2014-03-28

  • 分类号

  • 代理机构北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人范胜杰

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:02:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-03

    授权

    授权

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/20 申请日:20140328

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/20 申请日:20140328

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

  • 2016-10-12

    公开

    公开

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