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一种用于腔衰荡的拟合单指数衰减加权线性最小二乘方法

摘要

一种用于腔衰荡的拟合单指数衰减加权线性最小二乘方法,首先确定目标系统中对单指数衰减信号有影响的物理因素,比如系统噪声和系统响应时间(也称上升时间)等,统称为影响因素。在对单指数衰减信号取对数进行线性化的过程中,计算影响因素带来的偏差,以偏差为阈值条件截取有效信号数据点。利用有效信号数据点进行加权线性最小二乘运算得到单指数衰减函数的相关参数。本方法综合考虑了系统影响因素,在缩短了算法耗时的基础上提升了拟合精度,适用于腔衰荡技术中的衰荡时间常数提取和荧光寿命分析等技术领域。

著录项

  • 公开/公告号CN104503952B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN201510020682.7

  • 发明设计人 何星;栾银森;杨平;许冰;

    申请日2015-01-15

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:01:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-20

    授权

    授权

  • 2015-05-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/15 申请日:20150115

    实质审查的生效

  • 2015-05-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/15 申请日:20150115

    实质审查的生效

  • 2015-04-08

    公开

    公开

  • 2015-04-08

    公开

    公开

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