半导体元件测试用分选机及该分选机中的测试支持方法

摘要

本发明涉及一种半导体元件测试用分选机及该分选机中的测试支持方法。在根据本发明的半导体元件测试用分选机中，通过扩展托盘移送器的功能而提高其利用率，并增加附带的构成要素，从而使通过新的测试而被分类为重新测试对象的半导体元件能够在新的测试过后接着顺利进行重新测试。因此，对全部的1批量物量进行的新的测试过程与重新测试准备过程能够以相互之间的干扰最小化的状态有机地组合，从而提高处理速度和容量。