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基于二进制条纹离焦的条纹反射三维测量方法

摘要

本发明公开了基于二进制条纹离焦的条纹反射三维测量方法,由二进制条纹编码原理、离焦投影系统、条纹反射三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是:(1)本方法利用LED显示器投影二进制条纹,由于只有0和255两个灰度级,LED是采用半导体发光二极管的方式发光,因此LED显示器的投影速度有很大提高,极大地提高三维测量速度;(2)由于采用二进制条纹离焦的方法,LED显示器与参考平面之间的距离可以增大,因此LED显示器的测量范围要大于传统的LCD显示器的测量范围。(3)采用了二进制条纹离焦的方法,在被测物表面形成正弦条纹,这样CCD聚焦在被测物体上,就可以拍到清晰的被物体高度调制的变形条纹像。提高了测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN104457614B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南昌航空大学;

    申请/专利号CN201410627969.1

  • 发明设计人 伏燕军;张建成;吴海涛;李彪;

    申请日2014-11-11

  • 分类号G01B11/25(20060101);

  • 代理机构36111 南昌洪达专利事务所;

  • 代理人刘凌峰

  • 地址 330000 江西省南昌市丰和南大道696号

  • 入库时间 2022-08-23 09:59:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-01

    授权

    授权

  • 2015-04-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20141111

    实质审查的生效

  • 2015-04-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20141111

    实质审查的生效

  • 2015-03-25

    公开

    公开

  • 2015-03-25

    公开

    公开

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