利用过滤器和微结构化表面检测样品中所关注分析物的方法

摘要

本发明公开了用于检测样品中所关注分析物的系统和方法。所述系统可包括第一容器，所述第一容器包括过滤器部分。所述过滤器部分可包括过滤器，所述过滤器包括位于所述过滤器的第一侧面上的所述样品的滤渣。所述系统还可包括第二容器，所述第二容器包括联接到具有微结构化表面的检测部分的所述过滤器部分。所述方法可包括提供所述第一容器，将所述过滤器部分联接到所述检测部分以形成所述第二容器，其中所述过滤器的所述第一侧面面向所述微结构化表面，以及使所述第二容器朝着所述微结构化表面离心。所述方法还可包括在离心之后将所述第二容器倒置以使所述上清液从所述检测部分滗析出来，使得包含所述样品的沉降物的浓缩物截留所述微结构化表面中，可以解析所述微结构化表面中是否有所关注分析物。