用于控制测试块并行性的支持简化配置的测试系统

摘要

本发明公开了用于配置测试系统的技术，所述技术允许在测试半导体器件的单独功能部分的过程中的并行度的简化指定。对于具有多个子流程的测试流程而言，可标识出与每个子流程有关的被接入引脚以定义流程域。可定义站区，每个站区与某个流程域相关联。可使测试器站与这些流程域专用站区中的每一个相关联，并且可将独立操作资源分配到这些测试器站。还可使所述定义的站区的第二部分与测试器站相关联，但可从多个流程域来接入分配给这些站区的资源。即使并非开发用于并行执行的测试块也可利用所述流程域专用站区中的资源来并行地执行。通过使用所述站区的第二部分来提供灵活性以共享资源。