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蜡的涂布膜厚和涂布范围评价方法、以及涂布检查系统

摘要

本发明的蜡的涂布膜厚评价方法,具备:温度取得工序,用红外线热成像仪拍摄被涂布部件来取得涂布蜡前的被涂布部件的表面温度、和涂布蜡的区域的背面温度;实际温度差算出工序,算出涂布区域的背面温度与涂布前的表面温度的实际温度差;理论公式导出工序,基于针对被涂布部件的蜡的涂布条件,来导出表示涂布区域的背面温度与涂布前的表面温度的温度差、和蜡的涂布膜厚的关系的理论公式;和涂布膜厚评价工序,使用理论公式,根据实际温度差来进行蜡的实际的涂布膜厚的评价。

著录项

  • 公开/公告号CN103988047B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大发工业株式会社;

    申请/专利号CN201280058045.3

  • 申请日2012-11-30

  • 分类号G01B11/06(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人张莉

  • 地址 日本国大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:57:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-23

    授权

    授权

  • 2014-09-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20121130

    实质审查的生效

  • 2014-08-13

    公开

    公开

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