首页> 中国专利> 基于仿体的光学投影断层成像系统的几何校正方法

基于仿体的光学投影断层成像系统的几何校正方法

摘要

本发明提供的基于仿体的光学投影断层成像系统的几何校正方法,包括:对仿体进行数据采集得到二维投影数据,并且将所述二维投影数据进行三维重建得到三维重建数据,所述三维重建数据包括样本旋转轴水平偏移信息和旋转信息;根据所述样本旋转轴水平偏移和旋转信息获取所述样本旋转轴水平偏移信息和旋转信息对应的旋转轴水平偏移量和旋转角;通过所述旋转轴水平偏移量和旋转角分别将所述旋转轴水平偏移量和旋转角对应的水平偏移和旋转偏移进行几何校正。本发明可以提高光学投影断层成像系统的空间分辨率,减少图像的伪影。

著录项

  • 公开/公告号CN104713864B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201510124437.0

  • 申请日2015-03-20

  • 分类号

  • 代理机构北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋宝库

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2022-08-23 09:57:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-30

    授权

    授权

  • 2015-07-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20150320

    实质审查的生效

  • 2015-06-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号