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测量同轴型脉冲管制冷机制冷性能的标准杜瓦及制造方法

摘要

本发明公开了一种测量同轴型脉冲管制冷机制冷性能的标准杜瓦及制造方法,该标准杜瓦由真空罩、测量底座、波纹管、接线座、抽气接口、调节圈、安装座、柱状温度计、加热片组成,它将真空罩、加热片、温度计的功能集中于一体,可以方便快捷地对一定尺寸范围内的同轴型脉冲管制冷机制冷性能进行测量评价,最大限度地减少不同同轴型脉冲管制冷机间制冷性能对比的干扰因素,使不同制冷机之间的制冷性能具有更为科学可比性,同时节约测量制冷机制冷性能的时间和资源,并大幅度提高测量的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN104359693B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海技术物理研究所;

    申请/专利号CN201410546474.6

  • 发明设计人 党海政;

    申请日2014-10-16

  • 分类号

  • 代理机构上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人郭英

  • 地址 200083 上海市虹口区玉田路500号

  • 入库时间 2022-08-23 09:57:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-27

    授权

    授权

  • 2015-03-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 99/00 申请日:20141016

    实质审查的生效

  • 2015-02-18

    公开

    公开

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