首页> 中国专利> 一种消除环境光干扰的BSDF测量系统及测量方法

一种消除环境光干扰的BSDF测量系统及测量方法

摘要

本发明公开了一种消除环境光干扰的BSDF测量系统及测量方法,包括机架平台、测量平台、摇臂探头机构、控制模块、数据采集模块和PC机;测量平台包括旋转底座、设置在旋转底座上的支撑架、承重台、环形样品台、激光器等;测量时激光照射被测样品表面,经反射或透射后,通过摇臂的旋转以及样品台的自转,对半球面内各测量点的光线散射情况进行测量;测量时由电动快门对激光光路进行通断控制,每个测量点都分别测量有激光照射和无激光照射(即只有环境光)时的数据,把两种数据相减,便可去除环境光的成分,得到准确的BSDF测量数据。本系统可自动消除环境光的干扰,测量无需在暗环境中进行;广泛适用于各种材料属性的被测样品。

著录项

  • 公开/公告号CN104677859B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201510070046.5

  • 申请日2015-02-10

  • 分类号G01N21/47(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗观祥

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2022-08-23 09:56:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-31

    授权

    授权

  • 2015-07-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20150210

    实质审查的生效

  • 2015-06-03

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号