首页> 中国专利> 通过在不同频率和功率水平分析复反射反向散射来检测加载UHF RFID标签的材料的性质

通过在不同频率和功率水平分析复反射反向散射来检测加载UHF RFID标签的材料的性质

摘要

用于检测接近UHF标签的材料性质的RFID装置。RFID装置包括微芯片、可操作地连接于微芯片的天线和可操作地连接于微芯片和天线的阻抗变换部分。改变RFID装置至少一个组件的电特性在阅读器装置处导致复反射信号,其代表接近RFID装置的材料的检测状态。

著录项

  • 公开/公告号CN103430193B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 艾利丹尼森公司;

    申请/专利号CN201280013843.4

  • 发明设计人 I·J·福斯特;

    申请日2012-01-11

  • 分类号

  • 代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵蓉民

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:56:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-09

    授权

    授权

  • 2014-02-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 19/077 申请日:20120111

    实质审查的生效

  • 2013-12-04

    公开

    公开

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