首页> 中国专利> 一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统

一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统

摘要

本发明适用于光电技术领域,提供了一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统,所述光谱相位干涉装置在现有SPIDER装置基础上引进二步相移技术,这样可以方便地获得两幅干涉条纹互补的光谱干涉图样,在数据处理上不再需要用时间窗滤去直流量,从而消除了直流量与交流量的时间交叠对测量结果的影响,极大地提升了测量精度。因此,本光谱相位干涉装置广泛应用于各种超短光脉冲电场直接重构系统,尤适用于测量光谱形状比较复杂或光谱较窄的超短脉冲时间/光谱特性。

著录项

  • 公开/公告号CN104236726B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN201310244775.9

  • 申请日2013-06-19

  • 分类号

  • 代理机构深圳中一专利商标事务所;

  • 代理人陈世洪

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J11/00 授权公告日:20170419 终止日期:20190619 申请日:20130619

    专利权的终止

  • 2017-04-19

    授权

    授权

  • 2017-04-19

    授权

    授权

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J11/00 申请日:20130619

    实质审查的生效

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 11/00 申请日:20130619

    实质审查的生效

  • 2014-12-24

    公开

    公开

  • 2014-12-24

    公开

    公开

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