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用于确定制造表面相对于参考表面的位置参数的方法

摘要

由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法,该方法包括:一个提供标称表面的步骤(S1)、一个提供测量表面的步骤(S2)、一个提供变形表面的步骤(S3)、一个确定合成表面的步骤(S4)以及一个参数确定步骤(S5),在该参数确定步骤过程中,通过最小化该标称表面和该合成表面之间的差值来确定这些位置参数以及定义该变形表面的至少一个变形参数。

著录项

  • 公开/公告号CN103517784B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 依视路国际集团(光学总公司);

    申请/专利号CN201280022607.9

  • 申请日2012-05-11

  • 分类号B24B13/00(20060101);B24B49/00(20120101);B24B51/00(20060101);G02B27/00(20060101);G02C7/02(20060101);G05B19/4097(20060101);G06Q50/00(20120101);

  • 代理机构31216 上海天协和诚知识产权代理事务所;

  • 代理人张恒康

  • 地址 法国莎朗通

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-22

    专利权的转移 IPC(主分类):B24B 13/00 登记生效日:20180503 变更前: 变更后: 申请日:20120511

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2014-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 13/00 申请日:20120511

    实质审查的生效

  • 2014-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 13/00 申请日:20120511

    实质审查的生效

  • 2014-01-15

    公开

    公开

  • 2014-01-15

    公开

    公开

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