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带凸部的电子元器件及带凸部的电子元器件的制造方法

摘要

本发明的目的在于提供一种带凸部的电子元器件及带凸部的电子元器件的制造方法。该带凸部的电子元器件及带凸部的电子元器件的制造方法用于防止半导体芯片的特性变化及半导体基板与安装基板之间的连接不良。带凸部的电子元器件包括:电路基板(1);以及多个凸部(B1、B2),该多个凸部(B1、B2)形成于电路基板(1)的基板主面上,所述多个凸部(B1、B2)在与基板主面平行的方向上的截面积不同。另外,凸部(B1、B2)中截面积较小的凸部(B1)在垂直方向上具有高度调整层(5)。

著录项

  • 公开/公告号CN103855118B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社村田制作所;

    申请/专利号CN201310647631.8

  • 发明设计人 大部功;长壁伸也;

    申请日2013-12-04

  • 分类号H01L23/488(20060101);H01L21/60(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人张鑫

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-29

    授权

    授权

  • 2014-07-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/488 申请日:20131204

    实质审查的生效

  • 2014-06-11

    公开

    公开

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