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一种电光相位调制器半波电压测量系统及测量方法

摘要

本发明涉及一种电光相位调制器半波电压测量系统及测量方法,该系统包括顺次连接的激光光源、3dB耦合器、第一偏振控制器、偏振合束器、第三偏振控制器、检偏器、光电探测器、测量电路控制模块以及电压源,第一偏振控制器通过3dB耦合器和偏振合束器还并联有待测相位调制器和第二偏振控制器,电压源连接在待测相位调制器上,该测量方法包括激光光源发出的光信号经检测系统转换为电信号,光电探测器输出的电信号通过测量控制电路控制模块调制完成半波电压的自动测量,并作相关处理,显示测量结果;该发明所设计的一种基于偏振波合成的方法测量电光调制器半波电压的系统和方法,可以快速、自动、准确测量调制器的半波电压。

著录项

  • 公开/公告号CN104020334B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏金迪电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201410231783.4

  • 申请日2014-05-28

  • 分类号

  • 代理机构南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人任立

  • 地址 212215 江苏省镇江市扬中市经济开发区港隆路558号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-29

    授权

    授权

  • 2014-10-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 19/00 申请日:20140528

    实质审查的生效

  • 2014-09-03

    公开

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