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借助坐标测量仪测量物体几何形状的方法

摘要

本发明涉及借助坐标测量仪(10)测量物体(12)且尤其是工件或工具的几何形状的方法。由光学传感器(14)如摄象机记录下物体(12)的几何形状并且以图像信息(32)的形式表示。在适用于物体(12)测量的图像信息中,选出并随后分析几何结构(60-70)如几何形状要素或轮廓。本发明的目的在于,即使是没有经验的操作人员,也可以快速无误地完成测量。当图像信息(32)改变时,自动分析适用于物体(12)测量的几何结构(60-70),并且标注出适当几何结构并将其用于随后的分析处理。

著录项

  • 公开/公告号CN1230660C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沃思测量技术股份有限公司;

    申请/专利号CN01816156.1

  • 发明设计人 R·克里斯托夫;

    申请日2001-09-20

  • 分类号G01B11/03;B25J9/16;G06T7/20;G01B11/24;

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人胡强;赵辛

  • 地址 德国吉森

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/03 授权公告日:20051207 终止日期:20150920 申请日:20010920

    专利权的终止

  • 2005-12-07

    授权

    授权

  • 2004-03-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-01-07

    公开

    公开

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