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用于测量结构和对象大小的光电设备和校准方法

摘要

公开了用于测量结构和对象大小的光电设备和校准方法。一种用于测量结构或对象大小的光电设备(10),具有用于将接收光转换成图像数据的光接收元件(20),在光接收元件(20)上游设置的接收光学器件(16、18)以及估值单元(22),其被构建为用于识别图像数据中的结构或对象,该结构或对象以图像点为单位确定,并借助比例因子将尺寸转换为绝对的、特别是公制的长度单位,其中可在校准过程中确定比例因子。估值单元(22)被构建为,找出图像数据中的编码区域并从其读取编码信息,以及在校准期间通过校准码(100)的尺寸来计算比例因子,校准码(100)的编码信息包括以绝对的长度单位为单位的、校准编码(100)的大小说明。

著录项

  • 公开/公告号CN103366147B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西克股份公司;

    申请/专利号CN201310074737.3

  • 申请日2013-03-08

  • 分类号

  • 代理机构北京安信方达知识产权代理有限公司;

  • 代理人周靖

  • 地址 德国瓦尔德基希

  • 入库时间 2022-08-23 09:53:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-01

    授权

    授权

  • 2013-11-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 7/10 申请日:20130308

    实质审查的生效

  • 2013-10-23

    公开

    公开

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