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一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差的测量方法

摘要

本发明公开了一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差的测量方法及装置,属于光纤应用技术领域。所述测量方法是指光源输出光经过耦合器,在Y波导中分为两路,其中上路光在熔点A处反射,下路光在熔点B处反射,两路反射光经过Y波导,最终经过耦合器,利用光谱仪测量输出光谱,导出光谱仪测得光谱数据,然后对测量得到的光谱数据做快速傅里叶变换得到反射次波的光程差。所述的测量装置是指采用光谱仪接收耦合器的反射光,并计算反射次波的光程差。本发明通过精确测量反射次波间的光程差,从而指导控制反射次波光程差,消除了光子带隙光纤陀螺中由反射次波引起的偏置误差。

著录项

  • 公开/公告号CN105466409B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201510755977.9

  • 申请日2015-11-09

  • 分类号

  • 代理机构北京永创新实专利事务所;

  • 代理人姜荣丽

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:53:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-15

    授权

    授权

  • 2016-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 19/72 申请日:20151109

    实质审查的生效

  • 2016-04-06

    公开

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