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一种低可探测目标RCS测量中的背景提取与抵消处理方法

摘要

本发明公开了一种低可探测目标RCS测量中的背景提取与抵消处理方法,该方法可涵盖但不限于现有的通过辅助测量载体直线平移、偏心圆柱做方位旋转、或二面角反射器绕雷达视线旋转测量,本发明可利用各种不同的辅助测量体的测量数据完成固定背景的提取处理,大大拓展了低可探测目标RCS测量中的背景辅助测量、背景提取和抵消技术的应用范围。特别是,当采用双重定标体作为辅助测量体时,定标测量和背景提取辅助测量可一次同时完成;当采用目标自身作为辅助测量体时,目标测量和背景提取辅助测量是一次同时完成的。本发明不但使得测量过程和工作量大为简化,同时还解决了因测量系统漂移等因素带来的背景抵消处理效果不理想的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN104635222B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201510097993.3

  • 发明设计人 许小剑;

    申请日2015-03-05

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-01

    授权

    授权

  • 2015-06-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/41 申请日:20150305

    实质审查的生效

  • 2015-05-20

    公开

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