首页> 中国专利> 一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法

一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法

摘要

一种快速测试非晶磁环的设备及其测试方法,涉及磁环测试设备及方法技术领域,其设备结构包括多台单频率的电感测试仪器,还包括上模和下模,上模设有多个导电探针,下模设有导电片,每台单频率的电感测试仪器均包括两根测试线,其中一根测试线与一个导电探针连接,另一根测试线与跟导电探针位置对应的一个导电片连接,本发明在测试多种频率下的非晶磁环的电感时,无需购买昂贵的测试仪器,利用老式的现有的测试仪器就可实现,可大大降低成本;由于多个导电片并排设置,测试完一个频率的电感后可马上推送到另一个测试工位测试第二个频率的电感,还可同时测试另外其它非晶磁环在其它频率下的电感,与现有技术相比,可大大提高测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN104198822B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东莞市大忠电子有限公司;

    申请/专利号CN201410432986.X

  • 发明设计人 周冬行;李正中;

    申请日2014-08-28

  • 分类号

  • 代理机构东莞市华南专利商标事务所有限公司;

  • 代理人刘克宽

  • 地址 523121 广东省东莞市东城区温塘茶上工业大道16号

  • 入库时间 2022-08-23 09:50:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 27/26 授权公告日:20170125 终止日期:20170828 申请日:20140828

    专利权的终止

  • 2017-01-25

    授权

    授权

  • 2017-01-25

    授权

    授权

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/26 申请日:20140828

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20140828

    实质审查的生效

  • 2014-12-10

    公开

    公开

  • 2014-12-10

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号