法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-01-11
授权
授权
2014-02-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 19/00 申请日:20130925
实质审查的生效
2014-01-01
公开
公开
机译: 半导体装置的故障分析方法,类似芯片的半导体装置的故障分析方法以及半导体装置的动态故障分析装置
机译: 多余的胶片修正方法,例如动态RAM,包括为模拟模型提供调节算法,确定样本的偏移值以及基于偏移值确定照明设备算法的参数
机译: 扫描移动修正方法内的动态体积的空扫描仪