多MBI模块测试方法

摘要

本发明通过MBI模块高位地址线A19‑A16和CPU模块的A23‑A16自检的交叉连接，实现多个同类MBI模块占用CPU模块不同的接口地址，达到一个CPU模块同时可以测试多块MBI的方法。解决传统的MBI接口测试方法为CPU和MBI的一对一测试，测试方法投入的工装CPU模块数量大，成本高的技术问题。提高了接口测试完整性，有效解决单MBI模块在试验过程中主机接口部分电路无法进行测试，测试覆盖率不全面的问题；提高一次试验能力，降低了工装CPU模块数量和成本。