公开/公告号CN102646566B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-12-14
原文格式PDF
申请/专利权人 上海集成电路研发中心有限公司;
申请/专利号CN201210138018.9
发明设计人 袁超;
申请日2012-05-04
分类号
代理机构上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人吴世华
地址 201210 上海市浦东新区张江高斯路497号
入库时间 2022-08-23 09:49:43
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-12-14
授权
授权
2015-01-21
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/20 申请日:20120504
实质审查的生效
2012-08-22
公开
公开
机译: 使用金刚石锯制备纳米/生物样品的冷冻样品的方法以及用于加工该样品的装置,使得能够从弱样品(例如作为生物材料)的所需横截面上进行SEM观察
机译: 通过TEM或SEM观察的方法以及用于其中的样品
机译: SEM观察样品及其制备方法