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一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法

摘要

本发明涉及一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法,可有效解决大口径射电望远镜反射面精度测量中测量时间长、测量精度低、固定俯仰测量、需额外硬件设备辅助等问题。本发明是一种特殊的相位恢复微波全息法,只需测量天线孔径场幅度,而对其相位采用一定的方法进行恢复。本发明可采用任意稳定的射电天文源作为其信号源,利用天文接收机和终端(功率辐射计),对天线聚焦和离焦下的波束图进行扫描;利用泽尼克多项式函数建立天线孔径相位模型,通过最小化算法对模型值和实测值的残差进行迭代运算,便可获取残差矢量最小的最优解,以得到泽尼克多项式系数,并反推获得天线的孔径相位分布,即可获得射电望远镜的反射面精度。

著录项

  • 公开/公告号CN103926548B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院新疆天文台;

    申请/专利号CN201410159400.7

  • 发明设计人 裴鑫;陈卯蒸;刘志勇;马军;王娜;

    申请日2014-04-18

  • 分类号G01R35/00(20060101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪

  • 地址 830011 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市新市区科学一街150号

  • 入库时间 2022-08-23 09:47:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-28

    授权

    授权

  • 2014-08-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20140418

    实质审查的生效

  • 2014-07-16

    公开

    公开

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