首页> 中国专利> 结合几何标定的相位测量轮廓术系统非线性校正方法

结合几何标定的相位测量轮廓术系统非线性校正方法

摘要

本发明公开了一种结合几何标定的相位测量轮廓术系统非线性校正方法。用相位测量轮廓术对标靶进行扫描,得到准确相位、平均亮度和亮度调制,分别利用准确相位和平均亮度对投影装置和摄像装置进行标定,根据准确相位和拍摄的结构光图像获取投影装置的非线性响应,建立灰度查找表,在投射结构光图案进行三维扫描前,利用该查找表对图案的灰度值进行预补偿,从而达到对测量系统进行非线性校正的目的。本发明可用于相位测量轮廓术系统的几何标定和非线性校正。本发明把测量系统的几何标定与非线性校正有机结合起来,具有操作简便,校正精度和执行效率高的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN104236482B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川大学;

    申请/专利号CN201410459772.1

  • 申请日2014-09-11

  • 分类号G01B11/25(20060101);

  • 代理机构11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人吴开磊

  • 地址 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号

  • 入库时间 2022-08-23 09:47:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-28

    授权

    授权

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20140911

    实质审查的生效

  • 2014-12-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号