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用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法

摘要

本发明公开了一种用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法,包括如下步骤:测量得到参考天线的天线系数;测量得到电磁波信号的功率的第一标准值;测量得到电磁波信号的功率的第一测量值;计算第一标准值与第一测量值的差值得到参考天线与传递天线之间的插入损耗;测量得到电磁波信号的功率的第二标准值;测量得到电磁波信号的功率的第二测量值;计算第二标准值与第二测量值的差值得到待校准天线与传递天线之间的插入损耗;由参考天线的天线系数、参考天线与传递天线之间的插入损耗、以及待校准天线与传递天线之间的插入损耗计算得到待校准天线的天线系数。所述现场校准方法适用于30MHz‑1GHz频段的辐射发射测量天线的校准。

著录项

  • 公开/公告号CN103605102B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201310618504.5

  • 申请日2013-11-28

  • 分类号G01R35/00(20060101);

  • 代理机构11257 北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人张文祎

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱408分箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:46:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-07

    授权

    授权

  • 2014-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20131128

    实质审查的生效

  • 2014-02-26

    公开

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