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一种内花键M值检验装置

摘要

本实用新型公开了一种内花键M值检验装置,包括检测器,在检测器的底部连接有延长杆,所述延长杆的末端设置有检测头,所述检测头包括外花键导套,所述外花键导套上加工有一合金检测触头,所述合金检测触头与检测器关联,以使得该合金检测触头与内花键槽配合实现检测;所述延长杆上还活动连接有一限位环,所述限位环能够沿延长杆滑动并锁紧;通过限位环的设置使其在检测时可通过限位环进行限位,使得检测头的进入到内花键后可通过限位环防止其检测头滑出内花键段,提升其检测效率,且限位环能够进行调节,使得对于在一定范围内的内花键进行检测,提高了其适用性。

著录项

  • 公开/公告号CN218211053U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2023-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆诺特精密科技有限公司;

    申请/专利号CN202221719406.1

  • 发明设计人 刘晓福;何鹏;明东升;黄春兰;

    申请日2022-07-04

  • 分类号G01B5/00;

  • 代理机构重庆中兴达启创专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人毛新民

  • 地址 400000 重庆市九龙坡区高新区含谷镇兴谷路39号6幢

  • 入库时间 2023-01-12 18:57:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-03

    授权

    实用新型专利权授予

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