化验室用电子分析天平

摘要

本实用新型涉及电子分析天平技术领域，具体是化验室用电子分析天平，包括底壳，所述底壳的上侧设置有透明保护罩，所述透明保护罩的两侧位于中段位置处对称固定有两个插壳，所述底壳的内部设置有保护罩固定机构，且底壳的上侧安装有天平主体，所述天平主体的上侧安装有天平托板，所述透明保护罩的上端设置有托板清理机构，所述托板清理机构包括安装于透明保护罩外侧一端的电机和固定于透明保护罩内侧两端的两个导杆。本实用新型设计新颖，结构巧妙，通过托板清理机构，可以自动将天平托板上表面粘附的灰尘颗粒扫除，防止灰尘颗粒堆积在天平托板的上侧，影响测量精准度。