一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置

摘要

本实用新型涉及锂电池保护板芯片技术领域，公开了一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置，包括底座、上盖板、滑动板、U型金属弹片、插脚以及L形拨杆，滑动板可左右滑动地嵌设于容置槽内设置，上盖板的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个第一芯片引脚插槽，滑动板的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个第二芯片引脚插槽，U型金属弹片分别依次嵌设于第一芯片引脚插槽和第二芯片引脚插槽内，圆弧形驱动部可转动地嵌设于第一支撑板的内侧壁与滑动板的内侧壁之间形成的间隙内，本实用新型能够有效避免待测芯片引脚发生松动而导致的接触不良现象，有效保证芯片的测试精度，且结构简单，操作使用方便，实用性强。

说明书

技术领域

本实用新型涉及锂电池保护板芯片技术领域，特别涉及一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置。

背景技术

锂电池保护板是对串联锂电池组的充放电保护；在充满电时能保证各单体电池之间的电压差异小于设定值（一般±20mV），实现电池组各单体电池的均充，有效地改善了串联充电方式下的充电效果；同时检测电池组中各个单体电池的过压、欠压、过流、短路、过温状态，保护并延长电池使用寿命；欠压保护使每一单节电池在放电使用时避免电池因过放电而损坏。锂电池保护板通常包括保护芯片、MOS开关及辅助器件NTC、ID、存储器等。其中保护芯片在一切正常的情况下控制MOS开关导通，使电芯与外电路沟通，而当电芯电压或回路电流超过规定值时，它立刻控制MOS开关关断，保护电芯的安全。锂电池保护板在出厂前通常需要对保护芯片进行功能测试，合格之后才能出厂。

目前用于单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片的功能测试装置大多是通过将保护芯片的插脚插在固定座的插接孔内上，然后导通进行功能测试，然而这种固定方式存在保护芯片的插脚与插孔之间接触不牢固的问题，导致芯片插脚接触不良，甚至松脱，从而影响芯片的测试精度。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置，旨在解决现有的用于单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片的功能测试装置通过将保护芯片的插脚插在固定座的插接孔内进行功能测试，插脚与插孔之间接触不牢固，导致芯片插脚接触不良，甚至松脱，影响芯片的测试精度的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置，

采用本实用新型的技术方案，具有以下有益效果：本实用新型的技术方案， 通过底座的上端壁的左侧凸设有一第一支撑板，底座的上端壁的右侧凸设有一第二支撑板，上盖板可拆卸地盖设于第一支撑板和第二支撑板的上端部，底座的上端壁和上盖板的下端壁之间相成一容置槽，滑动板可左右滑动地嵌设于容置槽内设置，上盖板的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个第一芯片引脚插槽，滑动板的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个与第一芯片引脚插槽相对应的第二芯片引脚插槽，U型金属弹片的外形均呈L形结构设置，U型金属弹片分别依次嵌设于第一芯片引脚插槽和第二芯片引脚插槽内，且U型金属弹片的外侧壁均可与第一芯片引脚插槽和第二芯片引脚插槽的内侧壁抵接设置，插脚分别竖直地凸设于底座的下底壁上，且U型金属弹片的下端部分别与插脚的上端部固定连接，且U型金属弹片分别与插脚电连接，L形拨杆的下端部凸设有一圆弧形驱动部，圆弧形驱动部可转动地嵌设于第一支撑板的内侧壁与滑动板的内侧壁之间形成的间隙内，且圆弧形驱动部均可与第一支撑板和滑动板的内侧壁滑动抵接设置，具体测试时，如图6所示，通过将待测芯片200的引脚201插入第一芯片引脚插槽和芯片引脚插槽内，且引脚201均位于U型金属弹片内，然后向左或者向右转动L形拨杆，通过圆弧形驱动部将滑动板向右滑动，进而使得U型金属弹片的左边向右运动，将待测芯片200的引脚201牢牢地夹紧固定，从而有效避免由于待测芯片200的引脚201与U型金属弹片之间发生松动而导致的接触不良现象，有效保证芯片的测试精度，将底座固定在测试平台上，上电并运行相应程序后，即可判定芯片功能是否合格，然后将L形拨杆向上转动，使U型金属弹片张开，可将待测芯片轻松取出，完成芯片功能测试，且结构简单，操作使用方便，实用性强。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型提出的一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置的整体结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置的另一视角的整体结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置的又一视角的整体结构示意图；

图4为本实用新型提出的一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置的部分结构示意图；

图5为本实用新型提出的一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置的分解结构示意图；

图6为本实用新型提出的一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置的待测芯片的结构示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置。

如图1至图6所示，在本实用新型的一实施例中，该单节锂电池和锂聚合物电池保护芯片功能检测装置，包括底座101、上盖板102、滑动板103、U型金属弹片104、插脚105以及L形拨杆106，所述底座的上端壁的左侧凸设有一第一支撑板1011，所述底座的上端壁的右侧凸设有一第二支撑板1012，所述上盖板可拆卸地盖设于所述第一支撑板和第二支撑板的上端部，所述底座的上端壁和所述上盖板的下端壁之间相成一容置槽107，所述滑动板可左右滑动地嵌设于所述容置槽内设置，所述上盖板102的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个第一芯片引脚插槽1021，所述滑动板103的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个与所述第一芯片引脚插槽相对应的第二芯片引脚插槽1031，所述U型金属弹片的外形均呈L形结构设置，所述U型金属弹片分别依次嵌设于所述第一芯片引脚插槽和第二芯片引脚插槽内，且所述U型金属弹片的外侧壁均可与所述第一芯片引脚插槽和第二芯片引脚插槽的内侧壁抵接设置，所述插脚分别竖直地凸设于所述底座的下底壁上，且所述U型金属弹片的下端部分别与所述插脚的上端部固定连接，且所述U型金属弹片分别与所述插脚电连接，所述L形拨杆106的下端部凸设有一圆弧形驱动部1061，所述圆弧形驱动部可转动地嵌设于所述第一支撑板的内侧壁与所述滑动板的内侧壁之间形成的间隙内，且所述圆弧形驱动部均可与所述第一支撑板和滑动板的内侧壁滑动抵接设置。

具体地，所述滑动板103的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有一滑槽1032，所述滑槽均与所述第二芯片引脚插槽相连通设置，所述底座的上端壁的两侧分别凸设有一导轨108，所述导轨分别可左右滑动地嵌设于所述滑槽内设置，使得滑动板左右滑动更加平稳，避免滑动板出现歪斜现象。

具体地，所述滑动板103的外侧壁的两侧分别凸设有一限位部1033，所述第二支撑板1012凹设有与所述限位部相对应的限位槽1013，所述限位部分别可滑动地嵌设于所述限位槽内设置，避免滑动板出现歪斜现象。

具体地，还包括紧固螺钉109，所述上盖板102的两端分别凹设有一通孔1022，所述第一支撑板和第二支撑板的上端部分别凹设有一螺纹孔1014，所述紧固螺钉分别穿设于所述通孔，并旋于所述螺纹孔内设置。

具体地，所述底座的下底壁凸设有多个弹性硅胶保护垫110，对底座起到缓冲保护作用。

具体地，所述L形拨杆106的上端部设有一手柄1062。

具体地，所述底座、上盖板以及滑动板均采用ABS塑料材质形成。

具体地，本实用新型通过底座的上端壁的左侧凸设有一第一支撑板，底座的上端壁的右侧凸设有一第二支撑板，上盖板可拆卸地盖设于第一支撑板和第二支撑板的上端部，底座的上端壁和上盖板的下端壁之间相成一容置槽，滑动板可左右滑动地嵌设于容置槽内设置，上盖板的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个第一芯片引脚插槽，滑动板的上端壁的两侧沿长度方向分别凹设有多个与第一芯片引脚插槽相对应的第二芯片引脚插槽，U型金属弹片的外形均呈L形结构设置，U型金属弹片分别依次嵌设于第一芯片引脚插槽和第二芯片引脚插槽内，且U型金属弹片的外侧壁均可与第一芯片引脚插槽和第二芯片引脚插槽的内侧壁抵接设置，插脚分别竖直地凸设于底座的下底壁上，且U型金属弹片的下端部分别与插脚的上端部固定连接，且U型金属弹片分别与插脚电连接，L形拨杆的下端部凸设有一圆弧形驱动部，圆弧形驱动部可转动地嵌设于第一支撑板的内侧壁与滑动板的内侧壁之间形成的间隙内，且圆弧形驱动部均可与第一支撑板和滑动板的内侧壁滑动抵接设置，具体测试时，如图6所示，通过将待测芯片200的引脚201插入第一芯片引脚插槽和芯片引脚插槽内，且引脚201均位于U型金属弹片内，然后向左或者向右转动L形拨杆，通过圆弧形驱动部将滑动板向右滑动，进而使得U型金属弹片的左边向右运动，将待测芯片200的引脚201牢牢地夹紧固定，从而有效避免由于待测芯片200的引脚201与U型金属弹片之间发生松动而导致的接触不良现象，有效保证芯片的测试精度，将底座固定在测试平台上，上电并运行相应程序后，即可判定芯片功能是否合格，然后将L形拨杆向上转动，使U型金属弹片张开，可将待测芯片轻松取出，完成芯片功能测试，且结构简单，操作使用方便，实用性强。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。