法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-12-06
授权
实用新型专利权授予
技术领域
本实用新型涉及测量仪技术领域,具体为一种用于线宽测量仪的光源组件及线宽测量仪。
背景技术
在制作PCB的工艺流程中,需要对PCB板的多向参数进行测量。其中,PCB板线宽参数的测量严重影响到PCB板的良品率,使得PCB板线宽测量设备越来越普及。
目前市场上的线宽测量设备,多以手动线宽测量仪为主,手动线宽测量仪需要人工移动被测PCB板,将测量点移动到成像装置的成像范围内,然后再手动操作测量。同时,现在线宽测量设备的成像装置多采用单一光源照射被测物,如采用低光源照明,会使得毛边比较清晰,但线路表面比较暗;而采用高光源照明,线路比较亮,毛边相对较暗,影响对被测物的打光效果,同样影响检测效果与准确度。
此外,线路板上的线路也是有方向的,通常邻近的线路方向基本一致,采用轴对称的环形光源虽然能得到亮度均匀的图像,但是对于凸显线路边缘毛边来说,环形光线不是最佳的,因为照射方向与线路同向的光线,不利于凸显线路边缘,这类光线通过镜头成像到相机传感面上形成背景噪声。
基于此,本实用新型中,提出了一种新型的用于线宽测量仪的光源组件及线宽测量仪,以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的一个目的在于提供一种用于线宽测量仪的光源组件,该光源组件由上层光源与下层光源组成,使得被测物看起来比较立体,提高拍照检测精准度;同时,将下层光源分为多个独立的发光区,使用者可依据被测物的实际情况等选择适宜的分组打光方式,利于后期图像拍照。
本实用新型采用以下技术方案:一种用于线宽测量仪的光源组件,其包括:
光源支撑架;
上层光源,所述上层光源设置在所述光源支撑架的顶部,所述上层光源位于被测物的正上方,用于照射被测物的上表面;
下层光源,所述下层光源设置在所述光源支撑架的底部,所述下层光源设置在所述被测物的外围,用于照射被测物的外侧;
其中,所述下层光源包括固定安装在所述光源支撑架底部的环形灯板,所述环形灯板分为2N(N≥2)个独立发光区,并在每个所述发光区上分别安装若干灯珠。
进一步的,对角设置的两个发光区为一组,以使所述环形灯板形成N组对角设置的发光单元。
进一步的,所述环形灯板分为8或10或12或14或16个独立发光区,形成4组~8组所述发光单元。
进一步的,不同发光区上的所述灯珠为不同发光波长的灯珠。
与现有技术相比,本实用新型中用于线宽测量仪的光源组件的有益效果为:
本实用新型中的用于线宽测量仪的光源组件,主要由上层光源与下层光源组成,上层光源为被测物的上表面打光,下层光源为被测物的侧边打光,通过上层光源与下层光源,使得被测物看起来比较立体,提高拍照检测精准度。同时,使用时,将被测物放置于下层光源的中心位置处,为被测物的外侧打光,且将下层光源分为多个独立的发光区,使用者可依据被测物的实际情况等选择适宜的分组打光方式,利于后期图像拍照;且发光区分组设置,利于光源维修处理,节约成本。
此外,当使用线宽测量仪测量线路时,由于线路是由方向的,当光源的照射方向与线路同向时,光线不利于凸显线路边缘毛边,此时,可使用本实用新型中的光源组件,控制垂直与线路方向的发光区处的灯珠发光,关闭与线路平行或接近平行的发光区处的灯珠,并对应的进行拍照与图像采集工作等,利于线路毛边的凸显。而当测圆形或圆环形产品时,可将全部灯珠均点亮,使用方式灵活多便,利于凸显待测物边缘。
本实用新型的另一个目的在于提供一种线宽测量仪,其包括:
机柜,在所述机柜的上表面设有一工作台;
十字滑行装置,所述十字滑行装置安装在所述工作台上;
升降调节装置,所述升降调节装置安装在所述十字滑行装置上;
成像装置,所述成像装置固定安装在所述升降调节装置的升降端,所述升降调节装置驱动所述成像装置升降调节;
其中,所述成像装置包括:
相机组件,所述相机组件固定安装在所述升降调节装置的升降端;
光源组件,所述光源组件安装在所述相机组件的底部,所述光源组件为上述的用于线宽测量仪的光源组件。
进一步的,所述工作台的中部向内凹陷,以使所述工作台的外边缘处形成阶梯结构;在所述工作台上设置一吸附面板,在所述吸附面板上开设若干吸附通孔;且吸附面板抵接安装在所述工作台的阶梯结构上,以使在所述吸附面板与工作台间形成有吸附腔;在所述工作台的下方固定安装有吸附组件,所述吸附组件与所述吸附腔连通。
进一步的,所述十字滑行装置包括滑动安装在所述机柜上的Y轴滑行模组、以及滑动安装在所述Y轴滑行模组上的X轴滑行模组,且所述Y轴滑行模组的滑行方向与所述X轴滑行模组的滑行方向相垂直;所述升降调节装置固定安装在所述X轴滑移模组上,驱动所述升降调节装置沿XY方向滑移。
进一步的,所述线宽测量仪还包括:
显示装置,所述显示装置固定设置在所述工作台上,并与所述成像装置电连接。
进一步的,在所述机柜的四角处分别设有可调节的支撑脚座。
与现有技术相比,本实用新型中线宽测量仪的有益效果为:
该线宽测量仪在使用时,将被测物(如PCB电路板等),放置于机柜上表面的工作台上,并通过十字滑行装置实现升降调节装置位置调节,带动成像装置移动至被测物的正上方。而成像装置安装在升降调节装置的升降端,启动升降调节装置驱动成像装置升降调节,实现对成像装置中相机组件的升降调节,利于提高检测的效率与检测的精准度。同时,光源组件为其打光,光源组件具有上述用于线宽测量仪的光源组件的全部优点。
附图说明
为了更清楚的说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见的,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它附图。
图1为本实用新型一种用于线宽测量仪的光源组件具体实施例结构示意图;
图2为图1中下层光源的平面展示图;
图3为本实用新型一种线宽测量仪具体实施例结构示意图;
图4为图3中工作台与吸附面板处剖视结构示意图;
图中:光源组件1、光源支撑架10、上层光源11、下层光源12、环形灯板121、发光区122、灯珠123;机柜2、工作台20、阶梯结构201、吸附腔202、吸附面板21、吸附组件22、支撑脚座23;十字滑行装置3、Y轴滑行模组30、X轴滑行模组31;升降调节装置4;成像装置5、相机组件50;显示装置6。
具体实施方式
下面将结合本实用新型中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通的技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型的保护范围。
下面结合附图1至附图4以及具体实施例详细论述本实用新型:
如图1-2所示,本实用新型提供了一种用于线宽测量仪的光源组件1,其包括:
光源支撑架10,光源支撑架10呈喇叭状,具有一大口端与一小口端,所述小口端与线宽测量仪中的相机组件的底部相连,大口端对准待测物体;
上层光源11,所述上层光源11为环形光源,设置在所述光源支撑架10的顶部,靠近所述相机组件50底部一侧,且所述上层光源11位于被测物的正上方,用于照射被测物的上表面,为被测物上表面打光;
下层光源12,所述下层光源12为环形光源,设置在所述光源支撑架10的底部,远离所述相机组件一侧;所述下层光源12设置在所述被测物的外围,用于照射被测物的外侧,为被测物的外侧打光,避免被测物侧边出现阴影;
其中,所述下层光源12包括固定安装在所述光源支撑架10底部的环形灯板121,所述环形灯板121分为2N(N≥2,且N为整数)个独立发光区122,可对每个发光区122进行发光与熄灭的独立控制,并在每个所述发光区122上分别安装若干灯珠123。本实用新型中对如何实现发光区122的独立控制,不做具体限定,可由本领域技术人员依据实际情况设计即可,如本实施例中,光源组件1中包括光源控制板,光源控制板固定安装在光源支撑架10上,每一发光区122均与光源控制板电连接,由光源控制板独立控制各个发光区122进行发光或熄灭,可由本领域技术人员编程控制各个发光区122独立打光等。
本实用新型中的用于线宽测量仪的光源组件,针对单一光源照射打光效果差等问题,将光源组件分为上层光源11与下层光源12,上层光源11为被测物的上表面打光,下层光源12为被测物的侧边打光,通过上层光源11与下层光源12,使得被测物看起来比较立体,提高拍照检测精准度。同时,使用时,将被测物放置于下层光源12的中心位置处,为被测物的外侧打光,且将下层光源12分为多个独立的发光区122,使用者可依据被测物的实际情况等选择适宜的分组打光方式,利于后期图像拍照;且发光区122分组设置,利于光源维修处理,节约成本。
此外,当使用线宽测量仪测量线路时,由于线路是由方向的,当光源的照射方向与线路同向时,光线不利于凸显线路边缘毛边,此时,可使用本实用新型中的光源组件1,控制垂直与线路方向的发光区122处的灯珠123发光,关闭与线路平行或接近平行的发光区处的灯珠123,并对应的进行拍照与图像采集工作等,利于线路毛边的凸显。而当测圆形或圆环形产品时,可将全部灯珠123均点亮,使用方式灵活多便,利于凸显待测物边缘。
进一步的,当测线路与条状等有方向的产品时,可将对角设置的两个发光区122为一组,以使所述环形灯板121形成N组对角设置的发光单元,将其分组,便于后期的调试等。如将环形灯板121分为8或10或12或14或16个独立发光区122,形成4组~8组所述发光单元。本实施例中,以设置4组发光单元为例,如图1所示,分为a发光区、b发光区、c发光区、d发光区、e发光区、f发光区、g发光区与h发光区,可以a发光区与e发光区点亮,其他发光区关闭,进行第一次拍照;b发光区与f发光区点亮,其他发光区关闭,进行第二次拍照;c发光区与g发光区点亮,其他发光区关闭,进行第三次拍照;d发光区与h发光区点亮,其他发光区关闭,进行第四次拍照,对比四张图像分析,选择最优的打光方式。当然,还可以多组同时打光,或者a发光区与f发光区组合打光等均可,实现最优打光方式,利于后期拍照。需要说明的,而本实用新型中的光源主要针对线宽及划痕类检测,特意将光源模式设为分组设置的不均匀照明模式。
进一步的,针对不同的待测物,如铜线路、金线路或银线路时,上述不同发光区上的所述灯珠123可以为不同发光波长的灯珠,发出不同颜色的光,打光效果更好。当然,本实用新型中的下层光源12还可以为单色光源或白色光源。
本实用新型还在上述用于线宽测量仪的光源组件的基础上,如图3至4所示,提供了一种线宽测量仪,其包括:
机柜2,在所述机柜2的上表面设有一工作台20;
十字滑行装置3,所述十字滑行装置3安装在所述工作台20上;
升降调节装置4,所述升降调节装置4安装在所述十字滑行装置3上,并由十字滑行装置3带动升降调节装置4进行滑移,实现升降调节装置4位置调节;
成像装置5,所述成像装置5固定安装在所述升降调节装置4的升降端,所述升降调节装置4驱动所述成像装置5升降调节;
其中,所述成像装置5包括:
相机组件50,所述相机组件50固定安装在所述升降调节装置4的升降端;
光源组件1,所述光源组件1安装在所述相机组件50的底部,所述光源组件1为上述的用于线宽测量仪的光源组件。
在使用时,将被测物(如PCB电路板等),放置于机柜2上表面的工作台20上,并通过十字滑行装置3实现升降调节装置4位置调节,带动成像装置5移动至被测物的正上方。而成像装置5安装在升降调节装置4的升降端,启动升降调节装置4驱动成像装置5升降调节,实现对成像装置5中相机组件50的升降调节,利于提高检测的效率与检测的精准度。同时,光源组件1为其打光,光源组件1具有上述用于线宽测量仪的光源组件的全部优点,此处不再赘述。
进一步的,所述工作台20的中部向内凹陷,以使所述工作台20的外边缘处形成阶梯结构201。在所述工作台20上设置一吸附面板21,在所述吸附面板21上开设若干吸附通孔;且吸附面板21抵接安装在所述工作台20的阶梯结构201上,以使在所述吸附面板21与工作台20间形成有吸附腔202。
在所述工作台20的下方固定安装有吸附组件22,用于产生负压,所述吸附组件22与所述吸附腔202连通。该吸附组件22可以为抽压风机等。
当待测物放置于工作台20上时,吸附组件22通过吸附腔202与吸附通孔连通,使吸附通孔处产生负压,使得待测物平整的贴敷在工作台20上,同时,起吸附定位作用,提高检测的准确率。
进一步的,所述十字滑行装置3包括滑动安装在所述机柜2上的Y轴滑行模组30、以及滑动安装在所述Y轴滑行模组30上的X轴滑行模组31,且所述Y轴滑行模组30的滑行方向与所述X轴滑行模组31的滑行方向相垂直;所述升降调节装置4固定安装在所述X轴滑移模组31上,驱动所述升降调节装置4沿XY方向滑移。X轴滑行模组31与Y轴滑行模组30,可准确的将升降调节装置4输送至指定位置处,利于精准定位。需要说明的,本实用新型中对X轴滑行模组31与Y轴滑行模组30的具体实现方式不做的限定,可采用皮带式滑行模组、丝杠式滑移模组等均可,本领域技术人员依据实际情况选择即可。
同理,升降调节装置4可采用齿轮齿条的升降方式、也可采用丝杠式滑移升降结构等均可,本实用新型中,不做具体限定。
进一步的,该线宽测量仪还可包括:
显示装置6,将所述显示装置6固定设置在所述工作台20上,并与所述成像装置5电连接,将成像装置5中拍照获得的被测物信息,输送至显示装置6上,进行显示,利于被测物的观察与检测,提高检测精准度。而本实用新型中该显示装置6可直接采用现有市场上售卖的计算机。
进一步的,在一些实施例中,还可在所述机柜2的四角处分别设有可调节的支撑脚座23,支撑脚座23起调节支撑作用,可依据地面平整度等情况,自行调节四角处的支撑脚座23高度,提高支撑的平稳度。而对于支撑脚座23的具体结构,本实用新型中不做具体限定,只要能实现支撑调节作用即可,都属于本实用新型的保护范围。
以上借助具体实施例对本实用新型做了进一步描述,但是应该理解的是,这里具体的描述,不应理解为对本实用新型的实质和范围的限定,本领域内的普通技术人员在阅读本说明书后对上述实施例做出的各种修改,都属于本实用新型所保护的范围。
机译: 线宽测量仪
机译: 线宽测量仪
机译: 线宽测量仪