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一种多枚内存条并行应用性能测试装置

摘要

本实用新型属于存储器测试装置领域,具体的说是一种多枚内存条并行应用性能测试装置,包括底座和保护罩;底座顶部通过支撑柱固接有散热面板;散热面板顶部固接有内存条存放框;内存条存放框正面开设滑槽;所述滑槽内侧面壁滑动连接有接触板;接触板正面开设有导槽;散热面板顶部相对于接触板的位置固接有挡块;挡块侧面通过弹簧固接有推条;推条背面滑动连接在导槽内侧壁上;推条正面固接有齿柱;底座顶部固接有电机;电机的输出端通过减速机固接有旋转轴;旋转轴贯穿散热面板并延伸至外部;旋转轴顶端固接有半齿齿轮;半齿齿轮与齿柱相啮合;确保了内存条不会在性能检测过程不会被装置的夹持器夹持而损坏。

著录项

  • 公开/公告号CN215954838U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡华锡未来半导体有限公司;

    申请/专利号CN202122196390.2

  • 发明设计人 洪学成;

    申请日2021-09-10

  • 分类号G11C29/56(20060101);

  • 代理机构44367 深圳市创富知识产权代理有限公司;

  • 代理人余文

  • 地址 214125 江苏省无锡市经开区金融八街8号联合金融大厦第11层1107号

  • 入库时间 2022-08-23 05:10:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    授权

    实用新型专利权授予

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