一种测试弹片及测试装置

摘要

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试弹片及测试装置，包括：测试部，与电子芯片的引脚抵接，用于测试所述电子芯片；弹性部，整体为弧形结构，与所述测试部连接，用于缓冲电子芯片的引脚与所述测试弹片的硬性接触，所述弹性部上还至少设有一条与所述弧形结构中弧形方向一致的弧形槽，以提高弹性部的韧性；以及固定部，与所述弹性部连接，用于固定所述测试弹片，所述固定部上还至少设有一个用于与PCB板电性连接的引脚连接部。本实用新型能够很好地提高测试弹片的使用寿命，以在整体上提高了测试装置的性价比。