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一种近红外成像测量用光学系统

摘要

本实用新型属于光学技术领域,更具体地,涉及一种近红外成像测量用光学系统。包括用于发射光束的芯片平面、用于对芯片出射光起准直作用的准直光学元件、用于对准直光束起滤波作用、保证芯片上每一点都具有相近的空间分辨率的孔径光阑、用于对准直光起会聚作用的会聚光学元件、以及在相机平面中实现图像获取的探测器;所述的芯片平面、准直光学元件、孔径光阑、会聚光学元件以及探测器依次设置在同一光轴上。本实用新型提供的一种近红外成像测量用光学系统,结构简单,成本低,提供了在近红外1.55μm波段下能够得到满足成像条件的近场成像系统。

著录项

  • 公开/公告号CN215493092U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中山大学;

    申请/专利号CN202120605980.3

  • 发明设计人 李凡;黄嘉伟;

    申请日2021-03-25

  • 分类号G01N21/01(20060101);G01N21/359(20140101);G02B13/00(20060101);G02B13/18(20060101);G02B27/30(20060101);

  • 代理机构44102 广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人王晓玲

  • 地址 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号

  • 入库时间 2022-08-23 03:46:45

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