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以太网物理层芯片的POE性能测试平台

摘要

本实用新型公开了一种以太网物理层芯片的POE性能测试平台,包括具有第一以太网物理层芯片的供电端被测设备、POE供电端模块和POE受电端模块,所述POE供电端模块通过网线与所述供电端被测设备相连以接收所述供电端被测设备的以太网物理层芯片信号,所述POE供电端模块还与所述POE受电端模块连接,所述POE供电端模块包括电源输入端,所述POE受电端模块包括电源输出端,外界电源从所述电源端注入在所述POE受电端模块的控制下进行分离并从所述电源输出端输出。本实用新型能够自动、简便、快速的测试芯片本身性能。

著录项

  • 公开/公告号CN215268312U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州裕太微电子有限公司;

    申请/专利号CN202022977586.0

  • 发明设计人 裘伟斌;

    申请日2020-12-09

  • 分类号H04L12/26(20060101);H04L12/10(20060101);

  • 代理机构32239 苏州慧通知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人丁秀华

  • 地址 215163 江苏省苏州市高新区科灵路78号4号楼201室

  • 入库时间 2022-08-23 03:31:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H04L12/26 专利号:ZL2020229775860 变更事项:专利权人 变更前:苏州裕太微电子有限公司 变更后:裕太微电子股份有限公司 变更事项:地址 变更前:215163 江苏省苏州市高新区科灵路78号4号楼201室 变更后:215000 江苏省苏州市高新区科灵路78号4号楼201室

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

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