一种电子元器件的密封性测试设备

摘要

本实用新型公开了一种电子元器件的密封性测试设备，涉及电子元器件密封性测试技术领域。包括测试机和测试机上的测试设备，所述测试设备上设置有限位组件和卡紧组件，所述测试设备上开设有环形的通槽，所述卡紧组件包括滑动板，所述滑动板的两端贯穿测试设备的里侧，所述滑动板的两端均与通槽的内壁相滑动连接，所述滑动板的底部固定安装有弹簧A，所述弹簧A的底部固定在通槽的内壁上，所述滑动板的底部固定有拉绳，所述拉绳在远离滑动板的一端通过导向轮固定在夹板的左侧。通过设置的卡紧组件，可以对不同口径的电子阀进行夹紧，进而进行测试，有效的提高装置的适用范围，且操作简单，大大提高了装置的实用性。