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一种分光光度计大样品反射测量支架

摘要

本实用新型属于样品测量装置技术领域,尤其为一种分光光度计大样品反射测量支架,包括:标准反射附件,设置在样品室底板的左侧顶端并用于承载放置被测样品;大样品支架,设置于所述样品室底板的右侧顶端并用于承载放置较大的被测样品;其中,所述大样品支架包括安装板,设置于所述标准反射附件的右侧顶端并通过固定螺栓与所述标准反射附件螺接,所述安装板远离所述标准反射附件的一端两侧固设有两个用于支撑被测样品的侧支撑柱;在标准反射附件的顶端一侧通过固定螺栓设置一个安装板,安装板作为中间媒介连接一个中心支撑柱和两个侧支撑柱,中心支撑柱用于安装板,侧支撑柱用于承载外部待测样品,从而增加了测量支架的承载面积。

著录项

  • 公开/公告号CN214668526U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津市拓普仪器有限公司;

    申请/专利号CN202120633907.7

  • 发明设计人 赵鑫颖;

    申请日2021-03-29

  • 分类号G01N21/01(20060101);G01J3/02(20060101);

  • 代理机构11947 北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王翠

  • 地址 300350 天津市双港工业区丽港园12号

  • 入库时间 2022-08-23 01:42:18

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