首页> 中国专利> 一种同位素丰度高精度检测飞行时间质谱探测器

一种同位素丰度高精度检测飞行时间质谱探测器

摘要

本实用新型公开了一种同位素丰度高精度检测飞行时间质谱探测器,通过在离子门衰减器中引入脉冲电压电极瞬时改变高丰度离子运动轨迹,然后通过栅网衰减器降低离子强度,高丰度离子衰减后使用环形探测器检测信号。低丰度离子通过时,离子门电压保持不变,离子保持原来的运动轨迹,被中心轴探测器检测。高丰度离子和低丰度离子分别采用不同放大倍数的探测器进行检测,结合前端的高丰度离子衰减系统降低采集系统饱和而引起浓度测量的误差,衰减倍数可以调节离子门衰减器和栅网衰减器在100到5之间调节,从而实现含量差别很大的同位素在飞行时间质谱仪实现高精度检测。

著录项

  • 公开/公告号CN214672499U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202120497479.X

  • 发明设计人 刘艺琳;王青;李彬;王劲;张旻南;

    申请日2021-03-09

  • 分类号H01J49/40(20060101);H01J49/06(20060101);G01N27/62(20210101);

  • 代理机构11588 北京华仁联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈建

  • 地址 100048 北京市海淀区首都体育馆南路1号

  • 入库时间 2022-08-23 01:41:29

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号